調査･研究･開発･標準化

　技術資料の概要及び改定の概要

資料番号

ARIB TR-B24

技術資料名

HDTVシリアルデジタルインタフェースにおけるストレス試験法

策定年月日

2002年 7月25日

概要

本技術資料は、放送スタジオ内で使用されるHDTVシリアルデジタルインタフェース（以下HD-SDI）規格に準拠したデジタル映像機器を組み合わせて接続されたシステムに加わる各種ストレスを定義するとともに、HD-SDIシステムの対ストレス余裕度、あるいは信頼度の検証のための測定法を規定することを目的としています。　ストレス試験法は、現在良好に動作している映像機器、またはシステムに一定のストレスを与えて、誤りが発生するかどうかをチェックする試験法であり、試験対象となるシステムが、多少の劣化に対して障害を起こす限度に近い動作をしているのか、なお安定に動作する余裕があるのかを知ることができるため、システムチェックを必要とする運用現場にとって有用な試験法です。　これまでデジタルインタフェース測定法関連では「映像シリアルデジタルインタフェース測定法（ARIB TR-B7　1.0版　1997年11月策定）」並びに「シリアルデジタルインタフェースにおける映像信号のストレス試験法（ARIB TR-B16　1.0版　2000年7月策定）」を制定し、SDTVシリアルデジタルインタフェースにおける映像信号の測定方法を検討してきており、本技術資料はさらにHD-SDIへと拡張するための実験と検討を重ねたものです。
1　適用範囲（1.0版）
この試験法はHD-SDI信号を同軸ケーブルにより伝送する映像機器およびシステムに適用します。
2　構成と概要
本技術資料は、「ストレス試験法」を規定した本文と、本文に規定された試験法に対する「解説」という構成となっています。　それぞれの概要は次の通りです。
	第1章　一般事項　　目的、適用範囲、引用文書、用語、略語について記載。第2章　ストレス試験法における共通規定　対象とする試験、測定項目、ストレス試験によるシステム余裕度、信頼度の定義等ストレス試験法に適用する測定法の一般的な共通事項を規定しています。第3章　ストレス試験法における個別規定　ケーブル延長ストレス試験、レベル変化ストレス試験、ノイズ付加ストレス試験及びジッタ付加ストレス試験の4種類の測定法に関して、定義、測定器、測定ブロックダイヤグラム、試験／測定手順及び結果の判定について個別に規定しています。解説　本ストレス試験法を適用するにあたって測定法の意味等の理解を助けるため、測定法誤りの発生とその原因、誤り率測定、測定単位、測定時間等のストレス試験に関する一般的な事項、個別の試験法に関する事項及び測定機器に関する事項を解説として記載しています。

キーワード（用語と略語）

HD-SDI	High-Definition Television － Serial Digital Interface 　BTA S-004B及びSMPTE 292Mで規定されているHDTV用スタジオ内機器のための1.485Gbit/sのシリアルデジタルインタフェース
ケーブル延長ストレス	接続ケーブル長の延長をストレスとして、これによる信号減衰が誤り率へ与える影響を試験するもの　与えるストレスは、5C-FB同軸ケーブル20m、または同等の減衰特性をもつ同軸ケーブルあるいはケーブルシミュレータ
レベル変化ストレス	送信部の出力レベルの変化をストレスとして、受信部の自動イコライザの動作への影響を試験するもの　与えるストレスは、送信部の位置で、信号レベルを-10％変化させること
ノイズ付加ストレス	HD-SDI規格で規定された雑音レベルをストレスとして、これに対して耐性があるかどうかを試験するもの　与えるストレスは、直流、5kHz、5kHz以上27MHz未満及び27MHz以上
ジッタ付加ストレス	HD-SDI規格で規定されたジッタをストレスとして、これに対して耐性があるかどうかを試験するもの　与えるストレスは、10Hz以上100kHz未満及び100kHz以上クロック周波数の1/10以下
BTA S-004B	1125/60方式HDTV信号のビット直列デジタルインタフェース規格
SMPTE 292M	Bit-Serial Digital Interface for High-Definition Television System 　（HDTVシステム用ビットシリアルデジタルインタフェース規格）